Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Journal of Electrical Engineering
Tom 62 (2011): Zeszyt 6 (November 2011)
Otwarty dostęp
Some Aspects of Quantitative Analysis of Ternary Alloys of Group III-Nitrides by Auger Electron Spectroscopy
Jozef Liday
Jozef Liday
,
Peter Vogrinčič
Peter Vogrinčič
oraz
Gernod Ecke
Gernod Ecke
| 21 gru 2011
Journal of Electrical Engineering
Tom 62 (2011): Zeszyt 6 (November 2011)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
21 gru 2011
Zakres stron:
367 - 369
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10187-011-0059-2
Słowa kluczowe
GaN
,
AlN
,
AlGaN
,
AES relative elemental sensitivity factors
,
component sputtering yields
This content is open access.
Jozef Liday
Institute of Electronics and Photonics, Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Peter Vogrinčič
Institute of Electronics and Photonics, Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Gernod Ecke
Centre for Micro- and Nanotechnologies, Technical University of Ilmenau, Gustav Kirchhoff-Str. 7, D-98693 Ilmenau, Germany