Otwarty dostęp

Patent Citations Analysis and Its Value in Research Evaluation: A Review and a New Approach to Map Technology-relevant Research


Zacytuj

Anthony F.J. van Raan
Centre for Science and Technology Studies (CWTS), Leiden UniversityLeiden, The Netherlands
eISSN:
2543-683X
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Computer Sciences, Information Technology, Project Management, Databases and Data Mining