Acceso abierto

Patent Citations Analysis and Its Value in Research Evaluation: A Review and a New Approach to Map Technology-relevant Research


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Anthony F.J. van Raan
Centre for Science and Technology Studies (CWTS), Leiden UniversityLeiden, The Netherlands
eISSN:
2543-683X
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
4 veces al año
Temas de la revista:
Computer Sciences, Information Technology, Project Management, Databases and Data Mining