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Patent Citations Analysis and Its Value in Research Evaluation: A Review and a New Approach to Map Technology-relevant Research


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Anthony F.J. van Raan
Centre for Science and Technology Studies (CWTS), Leiden UniversityLeiden, The Netherlands
eISSN:
2543-683X
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
4 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Informatik, Informationstechnik, Projektmanagement, Datanbanken und Data Mining