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Materials Science-Poland
Volume 34 (2016): Numero 4 (December 2016)
Accesso libero
Optical spectroscopic analysis of annealed Cd
1−x
Zn
x
Se thin films deposited by close space sublimation technique
Ijaz Ali
Ijaz Ali
,
Amjid Iqbal
Amjid Iqbal
,
Arshad Mahmood
Arshad Mahmood
,
A. Shah
A. Shah
,
M. Zakria
M. Zakria
e
Asad Ali
Asad Ali
| 19 dic 2016
Materials Science-Poland
Volume 34 (2016): Numero 4 (December 2016)
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Pubblicato online:
19 dic 2016
Pagine:
828 - 833
Ricevuto:
16 apr 2016
Accettato:
17 ott 2016
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2016-0118
Parole chiave
thin films
,
optical constants
,
ellipsometry
,
CdZnSe
,
optical band gap
© Wroclaw University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.