Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Measurement Science Review
Tom 9 (2009): Zeszyt 1 (February 2009)
Otwarty dostęp
Multi-Wavelength Interferometry for Length Measurements Using Diode Lasers
K. Meiners-Hagen
K. Meiners-Hagen
,
R. Schödel
R. Schödel
,
F. Pollinger
F. Pollinger
oraz
A. Abou-Zeid
A. Abou-Zeid
| 20 kwi 2009
Measurement Science Review
Tom 9 (2009): Zeszyt 1 (February 2009)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
20 kwi 2009
Zakres stron:
16 - 26
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10048-009-0001-y
Słowa kluczowe
interferometry
,
diode laser
,
length measurement
,
long distance
,
surface profile
,
gauge blocks
This content is open access.