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Measurement Science Review
Volumen 9 (2009): Edición 1 (February 2009)
Acceso abierto
Multi-Wavelength Interferometry for Length Measurements Using Diode Lasers
K. Meiners-Hagen
K. Meiners-Hagen
,
R. Schödel
R. Schödel
,
F. Pollinger
F. Pollinger
y
A. Abou-Zeid
A. Abou-Zeid
| 20 abr 2009
Measurement Science Review
Volumen 9 (2009): Edición 1 (February 2009)
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Publicado en línea:
20 abr 2009
Páginas:
16 - 26
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10048-009-0001-y
Palabras clave
interferometry
,
diode laser
,
length measurement
,
long distance
,
surface profile
,
gauge blocks
This content is open access.