Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Materials Science-Poland
Tom 35 (2017): Zeszyt 2 (July 2017)
Otwarty dostęp
Preparation and characterization of (Co
0:3
Zn
0:7
)(Ti
1–x
Sn
x
)Nb
2
O
8
microwave dielectric ceramics
Bin Tang
Bin Tang
,
Xing Zhang
Xing Zhang
,
Zixuan Fang
Zixuan Fang
,
Qinglin Liu
Qinglin Liu
oraz
Shuren Zhang
Shuren Zhang
| 26 lip 2017
Materials Science-Poland
Tom 35 (2017): Zeszyt 2 (July 2017)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
26 lip 2017
Zakres stron:
405 - 411
Otrzymano:
19 paź 2016
Przyjęty:
19 lut 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2017-0042
Słowa kluczowe
microwave dielectric ceramics
,
(Co0.3Zn0.7)(Ti1-xSnx)Nb2O8
,
ixiolite structure
© 2017
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Bin Tang
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of electronic Science and Technology of China,
Chengdu, China
Xing Zhang
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of electronic Science and Technology of China,
Chengdu, China
Zixuan Fang
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of electronic Science and Technology of China,
Chengdu, China
Qinglin Liu
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of electronic Science and Technology of China,
Chengdu, China
Shuren Zhang
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of electronic Science and Technology of China,
Chengdu, China