Login
Registrati
Reimposta password
Pubblica & Distribuisci
Soluzioni Editoriali
Soluzioni di Distribuzione
Temi
Architettura e design
Arti
Business e Economia
Chimica
Chimica industriale
Farmacia
Filosofia
Fisica
Geoscienze
Ingegneria
Interesse generale
Legge
Letteratura
Linguistica e semiotica
Matematica
Medicina
Musica
Scienze bibliotecarie e dell'informazione, studi library
Scienze dei materiali
Scienze della vita
Scienze informatiche
Scienze sociali
Sport e tempo libero
Storia
Studi classici e del Vicino Oriente antico
Studi culturali
Studi ebraici
Teologia e religione
Pubblicazioni
Riviste
Libri
Atti
Editori
Blog
Contatti
Cerca
EUR
USD
GBP
Italiano
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Carrello
Home
Riviste
Materials Science-Poland
Volume 35 (2017): Numero 2 (July 2017)
Accesso libero
Preparation and characterization of (Co
0:3
Zn
0:7
)(Ti
1–x
Sn
x
)Nb
2
O
8
microwave dielectric ceramics
Bin Tang
Bin Tang
,
Xing Zhang
Xing Zhang
,
Zixuan Fang
Zixuan Fang
,
Qinglin Liu
Qinglin Liu
e
Shuren Zhang
Shuren Zhang
| 26 lug 2017
Materials Science-Poland
Volume 35 (2017): Numero 2 (July 2017)
INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO
Articolo precedente
Articolo Successivo
Sommario
Bibliografia
Autori
Articoli in questo Numero
Anteprima
PDF
Cita
CONDIVIDI
Pubblicato online:
26 lug 2017
Pagine:
405 - 411
Ricevuto:
19 ott 2016
Accettato:
19 feb 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2017-0042
Parole chiave
microwave dielectric ceramics
,
(Co0.3Zn0.7)(Ti1-xSnx)Nb2O8
,
ixiolite structure
© 2017
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Bin Tang
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of electronic Science and Technology of China,
Chengdu, China
Xing Zhang
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of electronic Science and Technology of China,
Chengdu, China
Zixuan Fang
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of electronic Science and Technology of China,
Chengdu, China
Qinglin Liu
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of electronic Science and Technology of China,
Chengdu, China
Shuren Zhang
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of electronic Science and Technology of China,
Chengdu, China