Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Journal of Electrical Engineering
Tom 68 (2017): Zeszyt 7 (December 2017)
Otwarty dostęp
Investigation of deep defects in nanocrystalline-Si/Si interfaces using acoustic spectroscopy
Peter Bury
Peter Bury
,
Štefan Hardoň
Štefan Hardoň
,
Hikaru Kobayashi
Hikaru Kobayashi
oraz
Kento Imamura
Kento Imamura
| 29 gru 2017
Journal of Electrical Engineering
Tom 68 (2017): Zeszyt 7 (December 2017)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
29 gru 2017
Zakres stron:
43 - 47
Otrzymano:
23 kwi 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/jee-2017-0054
Słowa kluczowe
nanocrystalline-Si/Si interfaces
,
acoustic DLTS
,
deep defects
© 2017 Peter Bury et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Peter Bury
Department of Physics, Faculty of Electrical Engineering, University of Žilina
Žilina, Slovakia
Štefan Hardoň
Department of Physics, Faculty of Electrical Engineering, University of Žilina
Žilina, Slovakia
Hikaru Kobayashi
Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, CREST, Japan Science and Technology Organization
Osaka, Japan
Kento Imamura
Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, CREST, Japan Science and Technology Organization
Osaka, Japan