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Journal of Electrical Engineering
Band 68 (2017): Heft 7 (December 2017)
Uneingeschränkter Zugang
Investigation of deep defects in nanocrystalline-Si/Si interfaces using acoustic spectroscopy
Peter Bury
Peter Bury
,
Štefan Hardoň
Štefan Hardoň
,
Hikaru Kobayashi
Hikaru Kobayashi
und
Kento Imamura
Kento Imamura
| 29. Dez. 2017
Journal of Electrical Engineering
Band 68 (2017): Heft 7 (December 2017)
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Online veröffentlicht:
29. Dez. 2017
Seitenbereich:
43 - 47
Eingereicht:
23. Apr. 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/jee-2017-0054
Schlüsselwörter
nanocrystalline-Si/Si interfaces
,
acoustic DLTS
,
deep defects
© 2017 Peter Bury et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Peter Bury
Department of Physics, Faculty of Electrical Engineering, University of Žilina
Žilina, Slovakia
Štefan Hardoň
Department of Physics, Faculty of Electrical Engineering, University of Žilina
Žilina, Slovakia
Hikaru Kobayashi
Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, CREST, Japan Science and Technology Organization
Osaka, Japan
Kento Imamura
Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, CREST, Japan Science and Technology Organization
Osaka, Japan