Login
Registrati
Reimposta password
Pubblica & Distribuisci
Soluzioni Editoriali
Soluzioni di Distribuzione
Temi
Architettura e design
Arti
Business e Economia
Chimica
Chimica industriale
Farmacia
Filosofia
Fisica
Geoscienze
Ingegneria
Interesse generale
Legge
Letteratura
Linguistica e semiotica
Matematica
Medicina
Musica
Scienze bibliotecarie e dell'informazione, studi library
Scienze dei materiali
Scienze della vita
Scienze informatiche
Scienze sociali
Sport e tempo libero
Storia
Studi classici e del Vicino Oriente antico
Studi culturali
Studi ebraici
Teologia e religione
Pubblicazioni
Riviste
Libri
Atti
Editori
Blog
Contatti
Cerca
EUR
USD
GBP
Italiano
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Carrello
Home
Riviste
Materials Science-Poland
Volume 37 (2019): Numero 4 (December 2019)
Accesso libero
Effect of thermal annealing on structural and optical properties of In doped Ge-Se-Te chalcogenide thin films
Pravin Kumar Singh
Pravin Kumar Singh
,
S.K. Tripathi
S.K. Tripathi
e
D.K. Dwivedi
D.K. Dwivedi
| 30 dic 2019
Materials Science-Poland
Volume 37 (2019): Numero 4 (December 2019)
INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO
Articolo precedente
Articolo Successivo
Sommario
Bibliografia
Autori
Articoli in questo Numero
Anteprima
PDF
Cita
CONDIVIDI
Pubblicato online:
30 dic 2019
Pagine:
554 - 562
Ricevuto:
19 feb 2018
Accettato:
01 mar 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2019-0061
Parole chiave
chalcogenide glasses
,
phase transformation
,
thin films
,
DSC
,
optical band gap
© 2019 Pravin Kumar Singh et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Pravin Kumar Singh
Amorphous Semiconductor Research Lab, Department of Applied Science, Madan Mohan Malaviya University of Technology
Gorakhpur, India
S.K. Tripathi
Department of Physics, Punjab University
Chandigarh, India
D.K. Dwivedi
Amorphous Semiconductor Research Lab, Department of Applied Science, Madan Mohan Malaviya University of Technology
Gorakhpur, India