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Journal of Electrical Engineering
Volume 70 (2019): Numero 7 (December 2019)
Accesso libero
Black silicon – correlation between microstructure and Raman scattering
Stanislav Jurečka
Stanislav Jurečka
,
Emil Pinčík
Emil Pinčík
,
Kentaro Imamura
Kentaro Imamura
,
Taketoshi Matsumoto
Taketoshi Matsumoto
e
Hikaru Kobayashi
Hikaru Kobayashi
| 28 set 2019
Journal of Electrical Engineering
Volume 70 (2019): Numero 7 (December 2019)
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Pubblicato online:
28 set 2019
Pagine:
58 - 64
Ricevuto:
19 mar 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2019-0042
Parole chiave
black silicon
,
TEM
,
roughness
,
fractal properties
,
Raman scattering
© 2019 Stanislav Jurečka et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Stanislav Jurečka
Institute of Aurel Stodola, University of Žilina
Liptovský Mikuláš, Slovakia
Emil Pinčík
Institute of Physics SAS,
Bratislava, Slovakia
Kentaro Imamura
The Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University
Osaka, Japan
Taketoshi Matsumoto
The Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University
Osaka, Japan
Hikaru Kobayashi
The Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University
Osaka, Japan