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Journal of Electrical Engineering
Volumen 66 (2015): Edición 4 (July 2015)
Acceso abierto
An Efficient Functional Test Generation Method For Processors Using Genetic Algorithms
Ján Hudec
Ján Hudec
y
Elena Gramatová
Elena Gramatová
| 19 sept 2015
Journal of Electrical Engineering
Volumen 66 (2015): Edición 4 (July 2015)
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Publicado en línea:
19 sept 2015
Páginas:
185 - 193
Recibido:
16 sept 2014
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2015-0031
Palabras clave
processor
,
testing
,
functional test
,
test generation
,
genetic algorithm
,
evolutionary strategy
© Faculty of Electrical Engineering and Information Technology, Slovak University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Ján Hudec
Faculty of Informatics and Information Technologies of the Slovak University of Technology Ilkovičova 2, 842 16 Bratislava, Slovakia
Elena Gramatová
Faculty of Informatics and Information Technologies of the Slovak University of Technology Ilkovičova 2, 842 16 Bratislava, Slovakia