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Journal of Electrical Engineering
Volume 68 (2017): Numero 7 (December 2017)
Accesso libero
Morphology and FT IR spectra of porous silicon
Martin Kopani
Martin Kopani
,
Milan Mikula
Milan Mikula
,
Daniel Kosnac
Daniel Kosnac
,
Jan Gregus
Jan Gregus
e
Emil Pincik
Emil Pincik
| 29 dic 2017
Journal of Electrical Engineering
Volume 68 (2017): Numero 7 (December 2017)
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Pubblicato online:
29 dic 2017
Pagine:
53 - 57
Ricevuto:
23 apr 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/jee-2017-0056
Parole chiave
porous silicon
,
nanoparticles
,
anodic etching
,
morphology
© 2017 Martin Kopani et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.