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Journal of Data and Information Science
Volume 2 (2017): Numero 1 (February 2017)
Accesso libero
Patent Citations Analysis and Its Value in Research Evaluation: A Review and a New Approach to Map Technology-relevant Research
Anthony F.J. van Raan
Anthony F.J. van Raan
| 18 feb 2017
Journal of Data and Information Science
Volume 2 (2017): Numero 1 (February 2017)
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Article Category:
Expert Review
Pubblicato online:
18 feb 2017
Pagine:
13 - 50
Ricevuto:
23 nov 2016
Accettato:
03 dic 2016
DOI:
https://doi.org/10.1515/jdis-2017-0002
Parole chiave
Patent citations
,
Scientific non-patent references
,
Inventor-author relations
,
Bibliometric mapping
,
Science and technology interface
,
Research evaluation
,
Technology-relevant publications
© 2017 Anthony F.J. van Raan
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.