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Research Papers Faculty of Materials Science and Technology Slovak University of Technology
Band 26 (2018): Heft 43 (September 2018)
Uneingeschränkter Zugang
Trace Elements Analysis by Pixe Spectroscopy
Matúš Beňo
Matúš Beňo
,
Jozef Dobrovodský
Jozef Dobrovodský
,
Dušan Vaňa
Dušan Vaňa
,
Stanislav Minárik
Stanislav Minárik
und
Róbert Riedlmajer
Róbert Riedlmajer
| 23. Feb. 2019
Research Papers Faculty of Materials Science and Technology Slovak University of Technology
Band 26 (2018): Heft 43 (September 2018)
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Online veröffentlicht:
23. Feb. 2019
Seitenbereich:
25 - 32
Eingereicht:
04. Juni 2018
Akzeptiert:
13. Dez. 2018
DOI:
https://doi.org/10.2478/rput-2018-0027
Schlüsselwörter
PIXE
,
trace elements
,
ion beam
,
aerosol
,
geometric efficiency
© 2018 Matúš Beňo et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Matúš Beňo
Slovak University Of Technology In Bratislava, Faculty Of Materials Science And Technology In Trnava, Advanced Technologies Research Institute
Trnava
Jozef Dobrovodský
Slovak University Of Technology In Bratislava, Faculty Of Materials Science And Technology In Trnava, Advanced Technologies Research Institute
Trnava
Dušan Vaňa
Slovak University Of Technology In Bratislava, Faculty Of Materials Science And Technology In Trnava, Advanced Technologies Research Institute
Trnava
Stanislav Minárik
Slovak University Of Technology In Bratislava, Faculty Of Materials Science And Technology In Trnava, Advanced Technologies Research Institute
Trnava
Róbert Riedlmajer
Slovak University Of Technology In Bratislava, Faculty Of Materials Science And Technology In Trnava, Advanced Technologies Research Institute
Trnava