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Analytical Investigation on Papr Reduction in OFDM Systems Using Golay Codes


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Sabhyata Uppal
ECED, UIET, Chandigarh, Sector 25, Chandigarh. Pin 160014 India
Sanjay Sharma
ECED, Thapar University, Patiala, Pin-147004 India
Hardeep Singh
ECED, Thapar University, Patiala, Pin-147004 India
eISSN:
1339-309X
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
6 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Technik, Einführungen und Gesamtdarstellungen, andere